Hatina 4S
超紧凑型解决方案，用于测试 MEMS 与磁传感器
灵活且低成本的 ATE，支持超高并行度，适用于测试 MEMS 器件（加速度计、陀螺仪、MEMS 麦克风、压力、温度、湿度、气体传感器 等）以及 磁传感器。
原因
产品展示
Microtest 推出的 Hatina 4S 是一款紧凑型、高度多功能的自动化测试设备（ATE）平台，专为 MEMS 器件的最终测试和晶圆级测试（WS）而设计，适用于大规模量产环境。
凭借模块化架构，该平台可支持多种激励系统，适用于湿度、压力与温度传感器、麦克风、磁力计，以及用于加速度计与陀螺仪的扭转/倾斜单元。其高并行度（在乒乓模式下可扩展至 140 个测试点）大幅提升测试吞吐量并降低单站点成本。
该系统体积极小（高 538 mm × 宽 360 mm × 深 330 mm），便于集成至现有处理设备中，确保与自动化系统无缝兼容。
技术亮点包括：
– 专利无线圈磁场发生器（最高达 400 高斯），支持 3D 旋转
– 麦克风测试功能，具备高达 75 dB 信噪比、140 dB 声压级、<20 dB 噪声底噪和 <0.1 dB 精度
– 可实现 −40 °C 至 +180 °C 的气候测试舱
– 支持对 32 个测试点并行测试的加速度计/陀螺仪模块
– 配备 192 个 PPMU 和 320 路数字通道
简而言之，Hatina 4S 是一款适用于广泛 MEMS 应用及磁传感器的紧凑型、高性价比、高并行度测试解决方案，完美适配现代化测试环境中对单元成本控制与生产效率提升的需求。
Hatina 4S Sites
Hatina 4S Microphone
Hatina 4S Magnetic
Hatina 4S MEMS
Dimensions
Analog/Power
Voltage range: ±1V, ±3V, ±5V, ±10V; -10V/+30V; -10V/+55V
Current ranges: 20uA, 200uA, 2mA, 20mA, 4A
Digital
Measurements Instruments
画廊
了解更多
相关产品
此应用程序可让您在增强现实中查看部分 Microtest ATE 的 3D 模型。
