Hatina 4S

ATE compatta per dispositivi MEMS.

Incrementa il processo di produzione riducendo i costi poiché consente la qualificazione di diversi tipi di dispositivi senza cambiare scheda di interfaccia.

La piattaforma Hatina è in grado di condurre e produrre diversi impulsi ed eseguire il test dei dispositivi, sia al “wafer level” che al “final Test”.
Hatina 4S può essere adattata a tutti i principali handler, dove gli impulsi sono già disponibili.


Different configurations for different types of test
Main Features
Details :

Applications

Mems

SOLUZIONI DI TEST CON SENSORE MAGNETICO

Main Features

  • Up to 400 Gauss
  • 35/70 sites in parallel
  • Single reference per site
  • Patented coil less solution
  • 3D rotating magnetic field

SOLUZIONI MEMS PER MICROFONO

La soluzione completa di Microtest per testare i microfoni MEMS, inclusa la gestione degli impulsi e dei dispositivi.

Microtest è in grado di fornire soluzioni complete per testare qualunque dispositivo MEMS, in collaborazione con i più importanti produttori di handler.

Main Features

  • SNR up to 75dB
  • Max SPL up to 140dB
  • Less than 20dB SPL noise floor
  • Accuracy of SPL < 0.1dB
  • THD < 0.1%
  • Up to 70 sites parallelism
  • Test frequency from 20Hz to 20kHz

SOLUZIONI MEMS

Hatina 4S è in grado di soddisfare i requisiti di prova per il sensore MEMS di umidità, pressione e temperatura durante il “final Test”.

Main Features

  • Automotive range (-40 +180 °C)
  • Dynamic Temperature Conditioning
  • 32 sites running production
  • Possibility to manage higher parallelism: 35/70/140… Also, in ping pong
  • Higher throughput

SOLUZIONI MEMS PER ACCELEROMETRO & GIROSCOPIO

Sistema compatto e a basso consumo per azionare il kit M&MEMS.
Soluzione ideale per il collaufo finale di accelerometro e giroscopio

Main Features

  • Direct installation on the tilt and twist unit
  • 32 sites parallel testing
  • 64 PPMU + 320 Digital Channels
  • DSP Embedded