Hatina 4S

ATE di nuova generazione per il test di dispositivi mems

Aumenta il production throughput e riduce i costi grazie all’utilizzo di un’unica scheda di interfaccia.

La piattaforma Hatina è in grado di fornire differenti stimoli ed eseguire il test dei dispositivi, sia al “wafer level” che al “final Test”.
Hatina 4S si adatta ai principali handler, dove gli stimoli sono già disponibili.


Different configurations for different types of test
Main Features
Details :

Applications

MEMS

MAGNETIC SENSOR TESTING SOLUTION

Main Features

  • Up to 400 Gauss
  • 35/70 sites in parallel
  • Single reference per site
  • Patented coil less solution
  • 3D rotating magnetic field

MEMS SOLUTIONS MICROPHONE

La soluzione completa di Microtest per testare i microfoni MEMS, inclusa la gestione degli stimoli e dei dispositivi.

Forniamo soluzioni complete per testare qualunque dispositivo MEMS, in collaborazione con i più importanti produttori di handler.

Main Features

  • SNR up to 75dB
  • Max SPL up to 140dB
  • Less than 20dB SPL noise floor
  • Accuracy of SPL < 0.1dB
  • THD < 0.1%
  • Up to 70 sites parallelism
  • Test frequency from 20Hz to 20kHz

MEMS SOLUTIONS HUMIDITY CHAMBER/HUMIDITY SENSOR

Hatina 4S è in grado di testare diversi tipi di sensori MEMS (umidità, pressione e temperatura).

Main Features

  • Automotive range (-40 +180 °C)
  • Dynamic Temperature Conditioning
  • 32 sites running production
  • Possibility to manage higher parallelism: 35/70/140… Also, in ping pong
  • Higher throughput

MEMS SOLUTIONS ACCELEROMETER & GYROSCOPE

Soluzione ideale per il final test di accelerometro e giroscopio.

Main Features

  • Direct installation on the tilt and twist unit
  • 32 sites parallel testing
  • 64 PPMU + 320 Digital Channels
  • DSP Embedded
  • Low footprint solution to drive M&MEMS Kit