Hatina 4S
ATE compatta per dispositivi MEMS.
Incrementa il processo di produzione riducendo i costi poiché consente la qualificazione di diversi tipi di dispositivi senza cambiare scheda di interfaccia.
La piattaforma Hatina è in grado di condurre e produrre diversi impulsi ed eseguire il test dei dispositivi, sia al “wafer level” che al “final Test”.
Hatina 4S può essere adattata a tutti i principali handler, dove gli impulsi sono già disponibili.
Different configurations for different types of test
SOLUZIONI DI TEST CON SENSORE MAGNETICO
Main Features
- Up to 400 Gauss
- 35/70 sites in parallel
- Single reference per site
- Patented coil less solution
- 3D rotating magnetic field
SOLUZIONI MEMS PER MICROFONO
La soluzione completa di Microtest per testare i microfoni MEMS, inclusa la gestione degli impulsi e dei dispositivi.
Microtest è in grado di fornire soluzioni complete per testare qualunque dispositivo MEMS, in collaborazione con i più importanti produttori di handler.
Main Features
- SNR up to 75dB
- Max SPL up to 140dB
- Less than 20dB SPL noise floor
- Accuracy of SPL < 0.1dB
- THD < 0.1%
- Up to 70 sites parallelism
- Test frequency from 20Hz to 20kHz
SOLUZIONI MEMS
Hatina 4S è in grado di soddisfare i requisiti di prova per il sensore MEMS di umidità, pressione e temperatura durante il “final Test”.
Main Features
- Automotive range (-40 +180 °C)
- Dynamic Temperature Conditioning
- 32 sites running production
- Possibility to manage higher parallelism: 35/70/140… Also, in ping pong
- Higher throughput
SOLUZIONI MEMS PER ACCELEROMETRO & GIROSCOPIO
Sistema compatto e a basso consumo per azionare il kit M&MEMS.
Soluzione ideale per il collaufo finale di accelerometro e giroscopio
Main Features
- Direct installation on the tilt and twist unit
- 32 sites parallel testing
- 64 PPMU + 320 Digital Channels
- DSP Embedded