HATINA GP

Digital Mixed Signal

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Kronos 是一套软件工具,可通过将测试描述自动转换为代码,生成更好、更快速的测试程序。

HATINA GP 专为测试复杂的智能功率集成电路(Smart Power ICs)和系统级芯片(SoCs)而设计。建议用于高并行度测试。

HATINA GP 是一款 ATE 系统,专为满足模拟和混合信号器件在生产测试中的特性分析需求而设计。

借助最多可容纳 10 个插槽的模块化主框架,您可以将多个仪器集成到一个灵活且可扩展的平台中,适应各种类型的需求。

系统通过直观的图形化软件界面进行控制,无需编程技能,非常适合设计工程师和测试工程师(TE)使用。

原因

集成多路复用器可减少负载板的复杂性。
超过99%的并行测试效率,提供同类最佳的测试周期时间(COT)。
模块化仪器设计符合市场和技术发展的需求。
更小的占地面积和更低的功耗提升投资回报率(ROI)。
借助 KRONOS 实现自动化测试程序生成。

产品展示

HATINA GP 是由 Microtest 开发的通用型 ATE 系统,专为 ASIC、PMIC 和智能功率 IC/SoC 的高并行性测试而设计。

该系统适用于晶圆级和封装器件测试,集成了用于直流测试、数字信号和复杂测量的模块化资源。其智能资源管理最大限度地提高了效率并降低了测试成本。得益于内置的多路复用器,HATINA GP 简化了负载板设计,提高了可靠性并减少了占地面积。该架构支持最多 10 个可配置插槽。

每个插槽的资源包括高达 800 MHz 的数字通道、大电流 DPS、20 pA 分辨率的精密测量,以及高级仪器如 AWG、LCR 测量仪和数字化仪。系统结构紧凑、能效高,易于集成到自动化生产环境中。

Kronos 软件实现了测试程序的快速自动生成,加快产品上市时间。

HATINA GP 是对灵活性、可扩展性和高性能有高要求的生产环境的理想解决方案,尤其适用于汽车、工业和智能电源等领域。

特征

HATINA GP

Dimensions

D⨯W⨯H
640 mm ⨯ 670 mm ⨯ 700 mm

Analog/Power

DCS sources
DCS HP: 16 channels, ± 80V / ± 10A, floating
DCS LP: 160 channels, - 80V / +110V @ ± 200mA
DCS MP: 80 channels, - 80V / +110V @± 4A

Digital

Digital Channels
Up to 256 Dig ch per slot 200/400 MHz,
256 CH per board, PPMU, active load
64M Pattern Memory per pin (up to 128M)
64 M vectors DSIO / HRAM memory depth per pin

Measurements Instruments

AWG/TMS/Differential Voltage Meter
16 channels 400MSPS AWG
16 channels 80MSPS Digitizer, TMS
16 Differential Voltage Meter

Hatina GP Datasheet
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