HATINA GP 专为测试复杂的智能功率集成电路（Smart Power ICs）和系统级芯片（SoCs）而设计。建议用于高并行度测试。
HATINA GP 是一款 ATE 系统，专为满足模拟和混合信号器件在生产测试中的特性分析需求而设计。
借助最多可容纳 10 个插槽的模块化主框架，您可以将多个仪器集成到一个灵活且可扩展的平台中，适应各种类型的需求。
系统通过直观的图形化软件界面进行控制，无需编程技能，非常适合设计工程师和测试工程师（TE）使用。
原因
集成多路复用器可减少负载板的复杂性。
超过99%的并行测试效率，提供同类最佳的测试周期时间（COT）。
模块化仪器设计符合市场和技术发展的需求。
更小的占地面积和更低的功耗提升投资回报率（ROI）。
借助 KRONOS 实现自动化测试程序生成。
产品展示
HATINA GP 是由 Microtest 开发的通用型 ATE 系统，专为 ASIC、PMIC 和智能功率 IC/SoC 的高并行性测试而设计。
该系统适用于晶圆级和封装器件测试，集成了用于直流测试、数字信号和复杂测量的模块化资源。其智能资源管理最大限度地提高了效率并降低了测试成本。得益于内置的多路复用器，HATINA GP 简化了负载板设计，提高了可靠性并减少了占地面积。该架构支持最多 10 个可配置插槽。
每个插槽的资源包括高达 800 MHz 的数字通道、大电流 DPS、20 pA 分辨率的精密测量，以及高级仪器如 AWG、LCR 测量仪和数字化仪。系统结构紧凑、能效高，易于集成到自动化生产环境中。
Kronos 软件实现了测试程序的快速自动生成，加快产品上市时间。
HATINA GP 是对灵活性、可扩展性和高性能有高要求的生产环境的理想解决方案，尤其适用于汽车、工业和智能电源等领域。
特征
HATINA GP
Dimensions
D⨯W⨯H
640 mm ⨯ 670 mm ⨯ 700 mm
Analog/Power
DCS sources
DCS HP: 16 channels, ± 80V / ± 10A, floating
DCS LP: 160 channels, - 80V / +110V @ ± 200mA
DCS MP: 80 channels, - 80V / +110V @± 4A
DCS LP: 160 channels, - 80V / +110V @ ± 200mA
DCS MP: 80 channels, - 80V / +110V @± 4A
Digital
Digital Channels
Up to 256 Dig ch per slot 200/400 MHz,
256 CH per board, PPMU, active load
64M Pattern Memory per pin (up to 128M)
64 M vectors DSIO / HRAM memory depth per pin
256 CH per board, PPMU, active load
64M Pattern Memory per pin (up to 128M)
64 M vectors DSIO / HRAM memory depth per pin
Measurements Instruments
AWG/TMS/Differential Voltage Meter
16 channels 400MSPS AWG
16 channels 80MSPS Digitizer, TMS
16 Differential Voltage Meter
16 channels 80MSPS Digitizer, TMS
16 Differential Voltage Meter
Hatina GP Datasheet
Accessories
Viper
Automated Test Signals Analyzer
画廊
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此应用程序可让您在增强现实中查看部分 Microtest ATE 的 3D 模型。
该应用程序会将所选 Microtest ATE 的 3D 模型虚拟放置在平面上，以突出其紧凑的结构，从而尽可能真实地展示该设备在工作场所的外观。
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