Hatina 4S
Very compact solution for MEMS device testing.
Increase production throughput and reduce costs because it allows the qualification of different types of devices without changing interface board.
Hatina platform is able to drive and produce different stimuli, and perform devices testing, both at wafer level and final test.
Hatina 4S can be adapted to all major handlers, where stimuli are already available.
Different configurations for different types of test
应用领域
磁传感器测试解决方案
主要特性
- 高达400高斯
- 并行35/70个站点
- 每个站点一个参考
- 获得专利的无线圈解决方案
- 3D旋转磁场
微机电系统解决方案扩音器
Microtest与主要的分类器制造商合作,能够为任何类型的微机电系统设备提供完整的测试解决方案
主要特性
- SNR高达75dB
- SPL最大数值高达140dB
- 低于20dB的SPL噪声
- SPL精确度<0.1dB
- THD < 0.1%
- 多达70个站点并行
- 测试频率从20Hz到20kHz
微机电系统解决方案湿度箱/湿度传感器
Hatina 4S可以在最终测试时满足微机电系统湿度,压力和温度传感器的测试要求。
主要特性
- 汽车工业范围(-40 +180°C)
- 动态温度调节
- 32个测试站
- 更高效率的并行管理:35/70/140…另外,也有乒乓模式
- 更高的生产量
微机电系统解决方案加速度计和陀螺仪
在最终测试,测试加速度计和陀螺仪
主要特性
- 直接安装在倾斜和扭曲装置上
- 32个站点并行测试
- 64个PPMU + 320个电子管道
- 嵌入式DSP