HATINA GP
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HATINA GP è la soluzione progettata per il test di IC Smart Power complessi e SoC.
Consigliata per applicazioni ad alto parallelismo.
HATINA GP è il sistema ATE progettato per soddisfare le esigenze di caratterizzazione di dispositivi analogici e mixed-signal nei test di produzione.
Grazie a un mainframe modulare con fino a 10 slot, consente di integrare più strumenti in un’unica piattaforma flessibile e scalabile, adattabile a qualsiasi tipo di esigenza.
Il controllo avviene tramite un’interfaccia software grafica intuitiva che non richiede competenze di programmazione, rendendolo ideale sia per i progettisti che per i Test Engineer (TE).
Reasons Why
Product Presentation
HATINA GP è un sistema ATE general-purpose sviluppato da Microtest per il test ad alto parallelismo di ASIC, PMIC e IC/SoC Smart Power.
Progettato per applicazioni sia a livello wafer sia su dispositivi incapsulati, il sistema integra risorse modulari per test in DC, segnali digitali e misure complesse. La gestione intelligente delle risorse massimizza l’efficienza e riduce i costi di test.
Grazie ai multiplexer integrati, HATINA GP semplifica la progettazione della load board, migliorando l’affidabilità e riducendo l’ingombro. L’architettura supporta fino a 10 slot configurabili.
Le risorse per singolo slot includono: canali digitali fino a 800 MHz, DPS ad alta corrente, misure di precisione con risoluzione fino a 20 pA, Strumenti avanzati come AWG, LCR meter e digitalizzatore.
Il sistema è compatto, a basso consumo energetico e facilmente integrabile in ambienti di produzione automatizzati.
Il software Kronos consente lo sviluppo rapido e automatizzato dei programmi di test, ottimizzando il time-to-market.
HATINA GP è la soluzione ideale per ambienti produttivi che richiedono flessibilità, scalabilità e alte prestazioni, in particolare nei settori automotive, industriale e smart power.
HATINA GP
Dimensions
Analog/Power
DCS LP: 160 channels, - 80V / +110V @ ± 200mA
DCS MP: 80 channels, - 80V / +110V @± 4A
Digital
256 CH per board, PPMU, active load
64M Pattern Memory per pin (up to 128M)
64 M vectors DSIO / HRAM memory depth per pin
Measurements Instruments
16 channels 80MSPS Digitizer, TMS
16 Differential Voltage Meter
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