VIP Extended
可配置用于硅（Si）、碳化硅（SiC）和氮化镓（GaN）功率器件的 ATE 系统。
自动化测试设备（ATE）可配置用于硅（Si）、碳化硅（SiC）和氮化镓（GaN）功率器件；高边和低边驱动器 IC、IGBT、功率 MOSFET 及功率集成电路（Power ICs）。
原因
产品展示
VIP Extended 是一款高度可配置的 ATE 系统，专为并行测试基于硅（Si）、碳化硅（SiC）和氮化镓（GaN）器件而设计，包括高边/低边驱动器、IGBT、功率 MOSFET 和功率集成电路（Power ICs）。
该系统适用于晶圆分类、条带测试、贴装（Pick & Place）和重力送料机（Gravity handler）等环境，支持多达 48 个并行测试通道，可对 Rg、Cg 和 UIS 等参数进行测试，确保高器件产出率（UPH）并降低测试成本。
系统包括多达 48 个四象限直流电源（±80 V，±4 A）、48 个可编程电流源/吸通道（最大 ±250 A）、320 个可变电平数字通道（−1.25 V 至 6.75 V）、每通道 64 M 模式存储器，以及多达 192 个浮地数字驱动器。
时间测量由 48 通道 TMU（时间测量单元）完成，此外系统还配备多达 48 台 LCR 测量仪、64 个 PPMU、48 个皮安表（20 pA 精度）以及 64 个感性/电阻性负载。
所有组件均集成于一个紧凑型机柜（350 × 600 × 640 mm）中，使 VIP Extended 非常适合集成到量产生产线中。
VIP Extended 的模块化设计可适应多种测试配置，灵活满足特定器件的需求，通过高资源密度和操作灵活性有效降低单次测试成本。
该系统支持汽车、消费电子、工业、航天和 MEMS 等领域的应用，可无缝集成至高产能生产环境中。
总之，VIP Extended 结合了高性能并行测试、丰富的资源配置能力、精确度和紧凑设计，是应对高生产率、灵活性和成本效率要求的先进功率器件测试的理想解决方案。
VIP Extended
Dimensions
Analog/Power
Digital
Up to 64 PPMU
Measurements Instruments
Current Range from 2nA to 2uA (up to ±20pA accuracy)
画廊
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此应用程序可让您在增强现实中查看部分 Microtest ATE 的 3D 模型。
