VIP Extended

ATE configurabile per prodotti di potenza in Si, SiC e GaN

Sistema di Test Automatico (ATE) configurabile per dispositivi di potenza in Si, SiC e GaN; Driver IC lato alto e lato basso, IGBT, Power MOSFET e Power IC.

Reasons Why

Elevato UPH per wafer sort e strip test
Test parallelo su 48 siti per Rg, Cg e UiS
COT più basso per i dispositivi di potenza

Product Presentation

VIP Extended è un sistema ATE altamente configurabile, progettato per il test in parallelo di dispositivi in silicio, SiC e GaN, inclusi driver lato alto/lato basso, IGBT, MOSFET di potenza e circuiti integrati di potenza (Power IC).
Progettato per l’utilizzo in ambienti wafer sort, strip test, Pick & Place e handler a gravità, il sistema supporta fino a 48 siti di test in parallelo per la misura di parametri come Rg, Cg e UIS, garantendo un’elevata produttività (UPH) e una significativa riduzione dei costi di test.
Il sistema include: Fino a 48 risorse DC a quattro quadranti  (±80 V, ±4 A), 48 canali programmabili sink/source fino a ±250 A, 320 canali digitali con livelli variabili da –1,25 V a 6,75 V, 64 Mbit di memoria pattern per canale, fino a 192 driver digitali flottanti.
Le misure temporali sono gestite da un TMU a 48 canali, affiancato da fino a 48 LCR meter, 64 PPMUs, 48 picoamperometri (con accuratezza di 20 pA), 64 carichi induttivi/resistivi.
Tutti i componenti sono alloggiati in un cabinet compatto (350 × 600 × 640 mm), rendendo VIP Extended ideale per l’integrazione nelle linee produttive.

VIP Extended è stato progettato per offrire modularità in più configurazioni di test, adattandosi a requisiti specifici dei dispositivi e ottimizzando il costo per test grazie all’elevata densità di risorse e alla flessibilità operativa.
Supporta applicazioni nei settori automotive, consumer, industriale, aerospaziale e MEMS, integrandosi perfettamente in ambienti produttivi ad alto volume.

VIP Extended unisce test in parallelo ad alte prestazioni, ampia configurabilità, precisione e design compatto, offrendo una soluzione efficace per il test avanzato di dispositivi di potenza nei mercati che richiedono alta produttività, flessibilità e convenienza.

FEATURES

VIP Extended

Dimensions

D⨯W⨯H
640 mm ⨯ 600 mm ⨯ 350 mm

Analog/Power

DCS sources
DCS MP: 48 channels, 80V @± 4A
High Voltage Supply
STD 80V @250A (48 sites)
Load Prog Module
High current Sink/Source up to 250A@80V + up to 48 TMU & differential meter circuit

Digital

Digital Channels
Up to 320 digital channels
Up to 64 PPMU
Floating Digital Driver
up to 48: - 5V to 18V

Measurements Instruments

Inductive & Resistive Loads
Custom Board
LCR Meters
Up to 48
Pico Meters
Up to 48 picoA-meter
Current Range from 2nA to 2uA (up to ±20pA accuracy)

VIP Extended Datasheet

Applicazioni

Maggiori Informazioni

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    App Microtest

    Questa app permette di visualizzare alcuni modelli 3D degli ATE Microtest in Realtà Aumentata.

    L’app posiziona virtualmente il modello 3D dell’ATE Microtest selezionato su una superficie piana, per evidenziarne la forma compatta e offrire una visualizzazione il più realistica possibile di come apparirà il macchinario nel contesto lavorativo.
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