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VIP Extended

可配置的自动化测试设备（ATE），适用于低电压硅功率器件。

可配置的自动化测试设备（ATE），适用于低电压硅功率器件，包括高端和低端驱动IC、IGBT、功率MOSFET和功率集成电路。

原因

晶圆分类和条带测试的高 UPH（单位每小时产出）。

支持 48 通道并行测试 Rg、Cg 和 UiS。

功率器件测试中最低的 COT（测试周期时间）。

产品展示

VIP Extended 是一款高度可配置的自动测试设备（ATE）系统，专为硅基、SiC 和 GaN 器件的并行测试而设计，包括高侧/低侧驱动器、IGBT、功率 MOSFET 和功率 IC。
该系统专为晶圆分选（Wafer Sort）、条带测试（Strip Test）、贴片机（Pick & Place）和重力式 Handler 环境而开发，支持多达 48 个并行测试站点，用于 Rg、Cg 和 UIS 等参数测试，从而确保高器件通量（UPH）并降低测试成本。
系统包括多达 48 个四象限直流资源（±80 V，±4 A）、48 个可编程电流源/汇通道（最高 ±250 A）、320 个数字通道（低电平可变为 0 V，高电平范围 2.3 V 至 5.5 V，电流能力 50 mA）、2 M 向量模式存储器，以及多达 192 个浮置数字驱动器。
定时测量由 48 通道 TMU 处理，同时配备多达 48 台 LCR 表、64 个 PPMU、48 个皮安表（精度达 20 pA），以及 48 个电感/电阻负载。
所有组件均集成在一个紧凑机柜中（350 × 600 × 640 mm），使 VIP Extended 成为生产线集成的理想选择。

VIP Extended 专为在多种测试配置中提供模块化而设计，能够适应特定器件需求，同时通过资源密度和操作灵活性降低单次测试成本。
它支持汽车、消费电子、工业、航空航天和 MEMS 等领域的应用，并可无缝集成到高产量生产环境中。

总之，VIP Extended 将高性能并行测试、广泛的资源可配置性、精确度与紧凑设计相结合，为需要高生产率、灵活性和成本效率的市场提供了一种先进功率器件测试的有效解决方案。

特征

VIP Extended