Ovenless Burn-In & HTOL solution

La soluzione Ovenless Burn‑In & HTOL di Microtest rappresenta un’alternativa rivoluzionaria ed ecocompatibile ai tradizionali forni per Burn-In. Progettata per il test ad alta densità di dispositivi, consente un controllo termico indipendente per singolo DUT senza l’utilizzo di forni, riducendo in modo drastico il consumo energetico, le esigenze di raffreddamento e l’ingombro degli impianti.

Questa piattaforma a rack include un sistema di Burn-In (BIS) e rack con 24 slot interni, ognuno dei quali può contenere fino a 120 dispositivi, abilitando cicli Burn-In e HTOL completamente automatizzati su larga scala. Il sistema garantisce ramp-up e cool-down termici più rapidi e una regolazione precisa della temperatura a livello di DUT, migliorando significativamente l’efficienza e l’uniformità dei test.

Le sue credenziali green sono notevoli: consumi ridotti e minore impronta ambientale, perfettamente in linea con gli obiettivi ESG e le iniziative Industry 4.0.

Con dimensioni di circa 2000 mm (H) × 1200 mm (L) × 1300 mm (P), la soluzione è conforme allo standard SECS-GEM ed è pronta per l’integrazione in camera bianca, facilmente inseribile nelle linee produttive esistenti.

La sua versatilità applicativa copre diversi settori: automotive, medicale, MEMS, elettronica di consumo, aerospaziale, difesa, industriale e semiconduttori di potenza.

La soluzione Ovenless Burn‑In & HTOL unisce gestione termica all’avanguardia, sostenibilità operativa e automazione ad alta produttività, offrendo ai produttori una piattaforma più intelligente, pulita ed efficiente per i test di affidabilità dei dispositivi a semiconduttore.