Ovenless Burn-In & HTOL solution

CONTROLLO AUTONOMO DEL RISCALDATORE DEL DUT PER RIDURRE AL MINIMO IL CONSUMO ENERGETICO

Ovenless Burn-In di Microtest è una soluzione avanzata e altamente flessibile per il Burn-In, progettata per rispondere in modo ottimale alle diverse esigenze applicative.

Reasons Why

L’unica soluzione Burn-In senza forno sul mercato
Una soluzione molto più sostenibile rispetto ai forni tradizionali
Un impatto ESG concreto grazie alla riduzione di consumi, ingombro e requisiti di raffreddamento
Ramp-up e cool-down termici più veloci, con controllo della temperatura più preciso per ciascun DUT
Automazione completa con conformità a SECS/GEM e ai requisiti della smart factory 4.0

Product Presentation

La soluzione Ovenless Burn‑In & HTOL di Microtest rappresenta un’alternativa rivoluzionaria ed ecocompatibile ai tradizionali forni per Burn-In. Progettata per il test ad alta densità di dispositivi, consente un controllo termico indipendente per singolo DUT senza l’utilizzo di forni, riducendo in modo drastico il consumo energetico, le esigenze di raffreddamento e l’ingombro degli impianti.

Questa piattaforma a rack include un sistema di Burn-In (BIS) e rack con 24 slot interni, ognuno dei quali può contenere fino a 120 dispositivi, abilitando cicli Burn-In e HTOL completamente automatizzati su larga scala. Il sistema garantisce ramp-up e cool-down termici più rapidi e una regolazione precisa della temperatura a livello di DUT, migliorando significativamente l’efficienza e l’uniformità dei test.

Le sue credenziali green sono notevoli: consumi ridotti e minore impronta ambientale, perfettamente in linea con gli obiettivi ESG e le iniziative Industry 4.0.

Con dimensioni di circa 2000 mm (H) × 1200 mm (L) × 1300 mm (P), la soluzione è conforme allo standard SECS-GEM ed è pronta per l’integrazione in camera bianca, facilmente inseribile nelle linee produttive esistenti.

La sua versatilità applicativa copre diversi settori: automotive, medicale, MEMS, elettronica di consumo, aerospaziale, difesa, industriale e semiconduttori di potenza.

La soluzione Ovenless Burn‑In & HTOL unisce gestione termica all’avanguardia, sostenibilità operativa e automazione ad alta produttività, offrendo ai produttori una piattaforma più intelligente, pulita ed efficiente per i test di affidabilità dei dispositivi a semiconduttore.

FEATURES/CONFIGURAZIONI

60 sites double Vcore

80 sites single Vcore

120 sites single Vcore

Number of test sites
1440
1920
2880

Dimensions

D⨯W⨯H
1300 mm ⨯ 1200 mm ⨯ 2000 mm
1300 mm ⨯ 1200 mm ⨯ 2000 mm
1300 mm ⨯ 1200 mm ⨯ 2000 mm

Analog/Power

VCORE1 SUPPLY
2x site (fully independent)
@0.6-3.6V
1x site (fully independent)
@0.6-3.6V
1x site (fully independent)
@0.6-3.6V
VCORE2 SUPPLY
2x site (each channel shared on 5 sites)
@0.6-3.6V
1x site (each channel shared on 5 sites)
@0.6-5.0V
1x site (each channel shared on 5 sites)
@0.6-3.6V
VIO SUPPLY
1x site (each channel shared on 10 sites)
@1.65 – 5.5 V
1x site (each channel shared on 10 sites)
@1.65 – 5.5V
1x site (each channel shared on 10 sites)
@1.65 – 5.5V

Digital

Independent Digital Channels
10x site (4 DRIVERS, 2 RECEIVERS, 4 BIDIRECTIONALS)
5x site (2 DRIVERS, 1 RECEIVER, 2 BIDIRECTIONALS)
5x site (2 DRIVERS, 1 RECEIVER, 2 BIDIRECTIONALS)
Shared Digital Channels
15 DRIVERS x site (each channel shared on 5 site)
15 DRIVERS x site (each channel shared on 5 site)
15 DRIVERS x site (each channel shared on 5 site)

Measurements Instruments

Diode Measure
60
80
120
Heater Controls
60
80
120
Heater Resistance Measure
60
80
120
Voltage Measure
60
80
120

Burn In Datasheet

Applicazioni

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