为在 SiC、GaN、Si 器件和裸芯片上快速测量提供的一切所需
宽禁带(WBG)功率器件(如 SiC 和 GaN)在特性测试方面需要与上一代 Si 功率产品完全不同的方法。更高的功率、显著更快的开关速度,以及一系列必要的性能标准(如 JESD 24-9、JESD 24-10 和 AQG-324),都对功率分析仪提出了新的要求。
Quasar200 和 Pulsar600 功率特性测试仪可快速、轻松地测量 WBG 功率器件的性能。
Quasar200 非常适合用于 Si、GaN 以及低功率 SiC 的测试。Pulsar600 是我们面向超高电流应用的终极特性测试解决方案,尤其适用于 SiC、逆变器和汽车应用。
ipTEST 以在生产速度下测试最新 WBG 器件而闻名。现在,您可以在您的特性测试实验室中享受这些优势。
原因
产品展示
宽禁带器件测试的完整解决方案
ipTEST 实验室系统旨在加速工程师对功率器件的特性测试——无论是在研究、开发还是试产阶段。
从初始设置到高压测试执行与结果报告,我们的平台具备全面性、精确性与安全性。凭借模块化硬件、直观软件以及可追溯至 UKAS 的校准,ipTEST 为实验室提供快速、可操作的真实洞察,同时减少变量干扰。
精确度
每一套 ipTEST 实验室系统的核心都是对绝对测量精度的承诺。
凭借高带宽仪器和精密时序控制,我们的平台能够捕捉纳秒级真实器件行为,确保您获得可信且可重复的数据。
无论您是在分析细微的开关瞬态还是进行直流特性测试,我们的系统都能在电压和电流波形上提供经验证的 ±0.1% 精度,并在交流测试中实现行业领先的 <30 nH 寄生参数。
强健性:内置自动校准与实时系统监控,确保您的测试条件在整个测量流程中始终精确可追溯。
系统会自动生成校准日志,提供完整审计记录,为合规性、资质认证或学术研究等高要求环境中的数据完整性提供保障。
可重复性:我们的系统专为系统间一致性而设计,确保您在开发阶段测得的性能,在量产时也能准确重现,加速新产品的投产进程。
安全性
在处理高电压和高速开关器件时,安全至关重要,并被深度融入我们产品的各个部分。
我们的系统配备全封闭测试环境和受监控的硬件联锁访问,允许用户在无暴露活电端子的风险下执行高压高电流测试。
Socket Safe:保护您的投资。在高功率条件下进行测试与测量会对被测器件(DUT)及测试硬件造成重大压力。无论是执行破坏性测试还是测量易损器件,ipTEST 的功率特性测试仪都在 DUT 发生严重故障时提供充分保护。ipTEST 的 SocketSafeTM 技术可在 DUT 出现故障时保护测试插座和测试硬件,快速从器件与测试系统中移除能量,最大限度地减少测试插座维修需求,降低维护成本,并提升正常运行时间。这一点在测试未封装裸芯片时尤为重要。
合规性:无论是在学术实验室还是生产设施中,该系统均确保安心操作并满足最严格的安全规范。每套系统均通过 CE 认证,并依据主要 SEMI 标准设计,同时具备 UKAS 认证的校准服务。
Quasar200
Pulsar600
AC Source
AC Measure
1,000 A option
3,000A and 12,000A options
AC Misc.
DC Source
DC Measure
System
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